Datasheet Texas Instruments F28M35H22C1RFPS — Ficha de datos

FabricanteTexas Instruments
SerieF28M35H22C
Numero de parteF28M35H22C1RFPS
Datasheet Texas Instruments F28M35H22C1RFPS

Microcontrolador Concerto 144-HTQFP -40 a 125

Hojas de datos

F28M35x Concerto Microcontrollers datasheet
PDF, 2.2 Mb, Revisión: I, Archivo publicado: jun 8, 2015
Extracto del documento

Precios

Estado

Estado del ciclo de vidaActivo (Recomendado para nuevos diseños)
Disponibilidad de muestra del fabricanteNo

Embalaje

Pin144
Package TypeRFP
Industry STD TermHTQFP
JEDEC CodeS-PQFP-G
Package QTY60
Device MarkingF28M35H22C1RFPS
Width (mm)20
Length (mm)20
Thickness (mm)1
Pitch (mm).5
Max Height (mm)1.2
Mechanical DataDescargar

Paramétricos

# of ADC Modules2
12-bit A/D20 #Channels
ADC Channels20
ADC Conversion Time172 ns
ADC Resolution12-bit
ADC Sample & HoldDual
CAN2
CPUC28x, Cortex-M3
DMA1 6-Ch DMA, 1 32-ch DMA Ch
EMIFYes
Ethernet1
FPUYes
Flash512 KB
Frequency150,100 MHz
GPIO64
Generation28x + ARM Cortex M3 Concerto Series
I2C3
IO Supply3.3 V
McBSP1
Operating Temperature Range-40 to 105,-40 to 125 C
PWM24 Ch
Package GroupHTQFP
Package Size: mm2:W x L144HTQFP: 484 mm2: 22 x 22(HTQFP) PKG
RAM136 KB
RISC Frequency75,100 MHz
RatingCatalog
SPI5
Timers3 32-Bit CPU,1 WD
Total On-Chip Memory648 KB
Total Serial Ports2 CANs,3 I2C,5 SPI,6 SCIs,1 McBSP,1 USB,1 Ethernet
UART6
USB1

Plan ecológico

RoHSObediente

Kits de diseño y Módulos de evaluación

  • Evaluation Modules & Boards: TMDSSOLARCEXPKIT
    Concerto-based Solar Explorer Development Kit
    Estado del ciclo de vida: Activo (Recomendado para nuevos diseños)
  • Daughter Cards: TMDSCNCDH52C1
    H52C1 Concerto controlCARD
    Estado del ciclo de vida: Activo (Recomendado para nuevos diseños)
  • Evaluation Modules & Boards: TMDSDOCKH52C1
    H52C1 Concerto Experimenter Kit
    Estado del ciclo de vida: Activo (Recomendado para nuevos diseños)
  • JTAG Emulators/ Analyzers: C2000-GANG
    C2000 Gang Programmer
    Estado del ciclo de vida: Activo (Recomendado para nuevos diseños)
  • JTAG Emulators/ Analyzers: TMDSEMU100V2U-20T
    XDS100v2 JTAG Debug Probe (20-pin cTI version)
    Estado del ciclo de vida: Activo (Recomendado para nuevos diseños)
  • JTAG Emulators/ Analyzers: TMDSEMU100V2U-14T
    XDS100v2 JTAG Debug Probe (14-pin TI version)
    Estado del ciclo de vida: Activo (Recomendado para nuevos diseños)
  • JTAG Emulators/ Analyzers: TMDSEMU200-U
    XDS200 USB Debug Probe
    Estado del ciclo de vida: Activo (Recomendado para nuevos diseños)
  • JTAG Emulators/ Analyzers: TMDSEMU560V2STM-UE
    XDS560v2 System Trace USB & Ethernet Debug Probe
    Estado del ciclo de vida: Activo (Recomendado para nuevos diseños)
  • JTAG Emulators/ Analyzers: TMDSEMU560V2STM-U
    XDS560v2 System Trace USB Debug Probe
    Estado del ciclo de vida: Activo (Recomendado para nuevos diseños)

Notas de aplicación

  • Calculating Useful Lifetimes of Embedded Processors
    PDF, 521 Kb, Archivo publicado: nov 11, 2014
    This application report provides a methodology for calculating the useful lifetime of TI embedded processors (EP) under power when used in electronic systems. It is aimed at general engineers who wish to determine if the reliability of the TI EP meets the end system reliability requirement.
  • Calculator for CAN Bit Timing Parameters
    PDF, 37 Kb, Archivo publicado: marzo 22, 2016
    Controller Area Network (CAN) nodes use user-specified timing parameters to sample the asynchronous bitstream and recover the clock. These parameters are typically based on the frequency of the available reference oscillator. There may be several options available for a given frequency, and some of them will allow a looser oscillator tolerance than others. This application report details the creat

Linea modelo

Serie: F28M35H22C (3)

Clasificación del fabricante

  • Semiconductors > Microcontrollers (MCU) > Performance MCUs > Control + Automation > F28M3x