Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8374AFK — Ficha de datos

FabricanteTexas Instruments
SerieSN54BCT8374A
Numero de parteSNJ54BCT8374AFK
Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8374AFK

Dispositivos de prueba de escaneo con flip-flops activados por borde tipo D octal 28-LCCC -55 a 125

Hojas de datos

Scan Test Devices With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops datasheet
PDF, 435 Kb, Revisión: E, Archivo publicado: jul 1, 1996
Extracto del documento

Estado

Estado del ciclo de vidaActivo (Recomendado para nuevos diseños)
Disponibilidad de muestra del fabricanteNo

Embalaje

Pin28282828
Package TypeFKFKFKFK
Industry STD TermLCCCLCCCLCCCLCCC
JEDEC CodeS-CQCC-NS-CQCC-NS-CQCC-NS-CQCC-N
Package QTY1111
CarrierTUBETUBETUBETUBE
Device Marking5962-8374AFK9172701Q3ASNJ54BCT
Width (mm)11.4311.4311.4311.43
Length (mm)11.4311.4311.4311.43
Thickness (mm)1.831.831.831.83
Pitch (mm)1.271.271.271.27
Max Height (mm)2.032.032.032.03
Mechanical DataDescargarDescargarDescargarDescargar

Plan ecológico

RoHSSee ti.com

Linea modelo

Clasificación del fabricante

  • Semiconductors > Space & High Reliability > Logic Products > Flip-Flop/Latch/Registers