Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8374AFK — Ficha de datos

FabricanteTexas Instruments
SerieSN54BCT8374A
Numero de parteSNJ54BCT8374AFK
Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8374AFK

Dispositivos de prueba de escaneo con flip-flops activados por borde tipo D octal 28-LCCC -55 a 125

Hojas de datos

Scan Test Devices With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops datasheet
PDF, 435 Kb, Revisión: E, Archivo publicado: jul 1, 1996
Extracto del documento

Precios

Estado

Estado del ciclo de vidaActivo (Recomendado para nuevos diseños)
Disponibilidad de muestra del fabricanteNo

Embalaje

Pin28282828
Package TypeFKFKFKFK
Industry STD TermLCCCLCCCLCCCLCCC
JEDEC CodeS-CQCC-NS-CQCC-NS-CQCC-NS-CQCC-N
Package QTY1111
CarrierTUBETUBETUBETUBE
Device Marking5962-8374AFK9172701Q3ASNJ54BCT
Width (mm)11.4311.4311.4311.43
Length (mm)11.4311.4311.4311.43
Thickness (mm)1.831.831.831.83
Pitch (mm)1.271.271.271.27
Max Height (mm)2.032.032.032.03
Mechanical DataDescargarDescargarDescargarDescargar

Plan ecológico

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Linea modelo

Clasificación del fabricante

  • Semiconductors > Space & High Reliability > Logic Products > Flip-Flop/Latch/Registers