Datasheet Texas Instruments SN74BCT8240A — Ficha de datos

FabricanteTexas Instruments
SerieSN74BCT8240A
Datasheet Texas Instruments SN74BCT8240A

IEEE Std 1149.1 (JTAG) Dispositivo de prueba de exploración de límites con amortiguadores de inversión octal

Hojas de datos

Scan Test Devices With Octal Inverting Buffers datasheet
PDF, 424 Kb, Revisión: E, Archivo publicado: dic 1, 1996
Extracto del documento

Precios

Estado

SN74BCT8240ADW
Estado del ciclo de vidaActivo (Recomendado para nuevos diseños)
Disponibilidad de muestra del fabricanteNo

Embalaje

SN74BCT8240ADW
N1
Pin24
Package TypeDW
Industry STD TermSOIC
JEDEC CodeR-PDSO-G
Package QTY25
CarrierTUBE
Device MarkingBCT8240A
Width (mm)7.5
Length (mm)15.4
Thickness (mm)2.35
Pitch (mm)1.27
Max Height (mm)2.65
Mechanical DataDescargar

Paramétricos

Parameters / ModelsSN74BCT8240ADW
SN74BCT8240ADW
Bits8
F @ Nom Voltage(Max), Mhz70
ICC @ Nom Voltage(Max), mA52
Operating Temperature Range, C0 to 70
Output Drive (IOL/IOH)(Max), mA64/-15
Package GroupSOIC
Package Size: mm2:W x L, PKG24SOIC: 160 mm2: 10.3 x 15.5(SOIC)
RatingCatalog
Technology FamilyBCT
VCC(Max), V5.5
VCC(Min), V4.5
Voltage(Nom), V5
tpd @ Nom Voltage(Max), ns9

Plan ecológico

SN74BCT8240ADW
RoHSObediente

Notas de aplicación

  • Programming CPLDs Via the 'LVT8986 LASP
    PDF, 819 Kb, Archivo publicado: nov 1, 2005
    This application report summarizes key information required for understanding the 'LVT8986 linking addressable scan ports (LASPs) multidrop addressable IEEE Std 1149.1 (JTAG) test access port (TAP) transceiver. This report includes information about the 'LVT8986 secondary TAPs, bypass and linking shadow protocol, scan-path description languages, serial vector format files, and an example of how to

Linea modelo

Serie: SN74BCT8240A (1)

Clasificación del fabricante

  • Semiconductors> Logic> Specialty Logic> Boundary Scan (JTAG) Logic