Datasheet Texas Instruments SN74BCT8244ADWE4 — Ficha de datos

FabricanteTexas Instruments
SerieSN74BCT8244A
Numero de parteSN74BCT8244ADWE4
Datasheet Texas Instruments SN74BCT8244ADWE4

IEEE Std 1149.1 (JTAG) Dispositivo de prueba de exploración de límites con amortiguadores octales 24-SOIC 0 a 70

Hojas de datos

Scan Test Devices With Octal Buffers datasheet
PDF, 385 Kb, Revisión: E, Archivo publicado: jul 1, 1996
Extracto del documento

Precios

Estado

Estado del ciclo de vidaActivo (Recomendado para nuevos diseños)
Disponibilidad de muestra del fabricante

Embalaje

Pin24
Package TypeDW
Industry STD TermSOIC
JEDEC CodeR-PDSO-G
Package QTY25
CarrierTUBE
Device MarkingBCT8244A
Width (mm)7.5
Length (mm)15.4
Thickness (mm)2.35
Pitch (mm)1.27
Max Height (mm)2.65
Mechanical DataDescargar

Paramétricos

Bits8
F @ Nom Voltage(Max)70 Mhz
ICC @ Nom Voltage(Max)52 mA
Operating Temperature Range0 to 70 C
Output Drive (IOL/IOH)(Max)64/-15 mA
Package GroupSOIC
Package Size: mm2:W x L24SOIC: 160 mm2: 10.3 x 15.5(SOIC) PKG
RatingCatalog
Technology FamilyBCT
VCC(Max)5.5 V
VCC(Min)4.5 V
Voltage(Nom)5 V
tpd @ Nom Voltage(Max)8.5 ns

Plan ecológico

RoHSObediente

Notas de aplicación

  • Programming CPLDs Via the 'LVT8986 LASP
    PDF, 819 Kb, Archivo publicado: nov 1, 2005
    This application report summarizes key information required for understanding the 'LVT8986 linking addressable scan ports (LASPs) multidrop addressable IEEE Std 1149.1 (JTAG) test access port (TAP) transceiver. This report includes information about the 'LVT8986 secondary TAPs, bypass and linking shadow protocol, scan-path description languages, serial vector format files, and an example of how to

Linea modelo

Serie: SN74BCT8244A (2)

Clasificación del fabricante

  • Semiconductors > Logic > Specialty Logic > Boundary Scan (JTAG) Logic